近日，全球極具創(chuàng)新力的光伏企業(yè)晶科能源宣布，根據(jù)PVEL產(chǎn)品認(rèn)證計劃(PQP)的組件可靠性測試結(jié)果，晶科能源的N型TOPCon雙面雙玻組件(產(chǎn)品型號：JKM555N-72HL4-BDV)在各項測試中表現(xiàn)不俗，尤其是在DH2000——+BO恢復(fù)后組件功率衰減極低，獲得了“最佳表現(xiàn)組件”的稱號。

根據(jù)PVEL對數(shù)百種不同品牌組件進(jìn)行的DH2000測試結(jié)果顯示，不同技術(shù)(包括PERC、TOPCon、HJT和CdTe)的平均衰減率為1.2%至1.7%，而晶科能源的N型TOPCon雙面組件的平均衰減率僅為0.55%，在所有測試組件中最低。

PVEL的濕熱(DH)測試模擬了典型的高溫高濕環(huán)境下濕氣的長期滲透對組件電池及封裝材料的性能影響，當(dāng)?shù)唾|(zhì)量的組件或不合格的層壓工藝導(dǎo)致封裝材料失效時，濕氣會滲入組件并腐蝕內(nèi)部材料，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能失效和使用安全問題。

DH2000是一種可靠性測試，將組件放置在85°C高溫和85%濕度的環(huán)境箱中，持續(xù)測試2000小時。該測試的持續(xù)時間是IEC認(rèn)證所要求的兩倍，目的是為了驗證高溫和高濕條件下光伏組件電池及封裝材料的可靠性。

圖1 PQP測試前，工廠的目視、性能和光衰測試工序

圖2：PQP測試結(jié)果

圖3 PQP測試分析

（晶科能源）